美國貝克曼庫爾特公司于2010年第一季度在其專業網站中正式發布新一代的LS系列納米微米激光粒度分析儀。新的LS 13320 激光粒度儀將繼續保持高分辨率的優勢，并將測量下限延伸至革命性的17納米，使得應用靜態光散射技術獲得有高分辨率保證的納米尺度分析數據。在新一代的 LS 13320當中，添加了Rosin-Rammler 及 Folk & Ward Phi 方法，以作為標準分析方法之外的補充，提供豐富的分析功能。
　　新一代的LS 13320 綜合了偏振光強差異專利技術(PIDS)、光纖連接專利、數量眾多的檢測器、專利的“龍卷風”干法分散技術于一身，將與各應用領域的用戶一同分享這個全新的高分辨率與高重現性的分析技術成果。